行业动态

基于小视野成像的同轴光的改善应用

 

一、引言

同轴光,在机器视觉中是一类应用很广泛的光源。同轴光常用于高反光物体表面检测,比如芯片及硅片表面破损检测,LED外观缺陷检测等。从作用上讲,同轴光可以消除物体表面上不平整造成的阴影,均匀照射到物体表面,反射回相机,从而采集出一幅均匀性好,对比度高的图片。然而,在实际应用中,我们经常发现视野做得比较小(镜头放大倍率2倍或2倍以上)的时候,相机采集的图片模糊、镜头完全对焦不上的现象。针对这种现象,CST技术团队找到了一个完善的解决方案,其原理是通过优化同轴光分光镜的光学性能,改善光源内部的透射、反射与折射参数,达到了同轴光在小视野高清晰成像的效果。

二、同轴光成像案例对比

1.目标物:标定板。

检测视野:2.30mm*1.44mm。

图1 普通同轴光效果

图2 高清晰同轴光效果

2. 目标物:摄像头玻璃片。

检测目的:轮廓定位。

检测视野:2.30mm*1.44mm。

图3普通同轴光效果图

图4高清晰同轴光效果图

3.目标物:FPC软膜。

检测目的:Mark定位。

检测视野:2.30mm*1.44mm。

图5普通同轴光效果图

图6高清晰同轴光效果图

 

 后记:此同轴光主要应用于小视野情况下的成像。随着机器视觉的发展,技术的应用越来越成熟,对光源的了解也越来越深入。CST作为一家有着十多年的视觉经验的光源企业,在光源这一块始终走在行业的前列,对业内一些难题也有自己独特的见解。创新无止境,CST团队仍将持续关注客户与行业诉求,用专业、专注成就客户价值。