一、引言
同轴光,在机器视觉中是一类应用很广泛的光源。同轴光常用于高反光物体表面检测,比如芯片及硅片表面破损检测,LED外观缺陷检测等。从作用上讲,同轴光可以消除物体表面上不平整造成的阴影,均匀照射到物体表面,反射回相机,从而采集出一幅均匀性好,对比度高的图片。然而,在实际应用中,我们经常发现视野做得比较小(镜头放大倍率2倍或2倍以上)的时候,相机采集的图片模糊、镜头完全对焦不上的现象。针对这种现象,CST技术团队找到了一个完善的解决方案,其原理是通过优化同轴光分光镜的光学性能,改善光源内部的透射、反射与折射参数,达到了同轴光在小视野高清晰成像的效果。
二、同轴光成像案例对比
检测视野:2.30mm*1.44mm。
图1 普通同轴光效果
图2 高清晰同轴光效果
检测目的:轮廓定位。
检测视野:2.30mm*1.44mm。
图3普通同轴光效果图
图4高清晰同轴光效果图
检测目的:Mark定位。
检测视野:2.30mm*1.44mm。
图5普通同轴光效果图
图6高清晰同轴光效果图
后记:此同轴光主要应用于小视野情况下的成像。随着机器视觉的发展,技术的应用越来越成熟,对光源的了解也越来越深入。CST作为一家有着十多年的视觉经验的光源企业,在光源这一块始终走在行业的前列,对业内一些难题也有自己独特的见解。创新无止境,CST团队仍将持续关注客户与行业诉求,用专业、专注成就客户价值。