“视”不可挡，外观缺陷检测的首选！
同轴光，在机器视觉中是一类应用很广泛的光源。同轴光常用于高反光物体表面检测，比如芯片及硅片表面破损检测，LED外观缺陷检测等。从作用上讲，同轴光可以消除物体表面上不平整造成的阴影，均匀照射到物体表面，反射回相机，从而采集出一幅均匀性好，对比度高的图片。
CST窄波紫外光源，减少可见光干扰，比普通紫外光源更亮、更“纯净”！
CST偏振光源为机器视觉光源界的首创，其来源于CST公司多年的工程实践。从技术原理上讲，CST偏振光源并不复杂。本质上，其是将光的偏振技术与机器视觉光源结合起来的一种创新设计和创新应用。然而，正是这种小小的创新和突破，为机器视觉工程师们带来了极大的便利，并在很多情况下“轻而易举”地解决了视觉成像难题。创新无止境，CST团队仍将持续关注客户与行业诉求，用专业、专注成就客户价值。
在机器视觉检测中，轻微凹凸检测一直是个难题，这类特征在传统的均匀光照条件下，成像对比度很低甚至难以成像，因其只在投射的光源边界处能被观测得到，所以通常采用线阵扫描检测，亦或者是采用结构光的方式检测。
对检测对象单次图像采集，捕捉各类缺陷特征，大大降低整体视觉成本和安装空间。
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